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La cara oculta de los test de inteligencia : un análisis crítico / Anastasio Ovejero Bernal
Tipo de material:
TextoSeries Psicología universidadEditor: Madrid : Biblioteca Nueva, c2003Descripción: 317 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 8497421051Tema(s): Mediciones y pruebas educativas | Pruebas psicológicasClasificación LoC:BF431 | O84
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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